Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 16

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 10 11 12 13 14 15 < 16 > 17 18 19 20 21 22 .. 241 >> Следующая


На рис. 7 представлена принципиальная оптическая схема одно-призмевного спектрального прибора. Отклонение 8 луча после прохождения призмы зависит от преломляющего угла S призмы и от ее показателя преломления п и определяется следующей формулой (случай наименьшего отклонения):

.5 + 6 5 ..

sin-=nsin—. (2.1)

2 2 v ;

Плоскость спектра (фотографическая пластинка) располагается под углом є к оптической оси камеры. При ахроматических объективах спектрографа є— 90° (например, стеклянный спектрограф ИСП-51, рис. 8). Если объектив камеры не ахроматический, е^45° (например, кварцевый спектрограф ИСП-28, рис. 9). Наконец, если оба объекти-

31 Иа Г ахроматические, е-22° (например, автоколлимациошшй спектрограф КСА-1, рис. 10). Такое расположение спектра определяется тем, что для более сильно преломляемых призмой коротковолновых лучей неахроматический объектив имеет меньшее фокусное расстояние и эти лучи собираются ближе к объективу.

г ис. /. Оптическая схема однопризменного спектрографа: / — входная щель; 2 — коллиматоряьш объектив- 3~ диспергирующая призма; 4 — камерный объектив; 5 — плоскость

спектра

Pu:, 8. Трехпризменпый стеклянный спектрограф ИСП-51 со светосильной

камерой f = 120 мм

Угловая ширина АО спектра определяется разностью показателей преломления An вещества призмы для крайних длин волн спектра и с достаточным приближением может быть получена из (2.1) в следующем виде:

ДО

2An-sin — 2

(2.2)

Для многопризменных спектральных приборов угловая ширина спектра увеличивается в зависимости от числа призм (?); в формуле (2.2) появляется множитель k. Угол отклонения луча призмами

32 также увеличивается, однако введение плоских зеркал около призм или между ними позволяет получать конструктивно удобное значение угла 0; чаще используется угол отклонения 0 = 90° (например, трех-призменный спектрограф ИСП-51, рис. 8).

Рис. 9. Кварцевый спектрограф ИСП-28

Рис. 10. Автоколлимационный спектрограф KCA-I со стеклянной

и кварцевой оптикой

На рис. 11, а представлена оптическая схема спектрографа с плоской отражательной дифракционной решеткой. Положение спектра определяется углами падения (а) и дифракции (?) в соответствии с формулой дифракционной решетки

mX —d(sina + sin?). (2.3)

Здесь т — порядок спектра, d — постоянная решетки, равная расстоянию между соседними штрихами решетки; угол ? положителен, если он расположен с той же стороны от нормали к решетке, что и угол а. Ha рис. 11, а угол ? отрицателен, поэтому в (2.3) вместо суммы будет стоять разность синусов углов. На рис. 11,6, где приведена автокол-

3 Зак. 127

33 1



1 \

гл

N

ув

Рис. 11. Схема спектрографа с плоской дифракционной решеткой:

а — нормальная схема; б—автоколлимационная схема; 1 — входная щель; 2—камерный объектив; 3—плоская дифракционная решетка; 4 — камерный объектив; 5 — фотографическая пластинка; 6 — отклоняющее зеркало автоколлимационной схемы

Рис. 12. Схема автоколлимационного дифракционного спектрографа со

сферическим зеркалом: а — ход лучей в спектрографе: 1 — входная щель, 2, 4— сферическое зеркало, 3 — плоская дифракционная решетка, 5 — фотографическая пластинка, 6 — отклоняющее зеркало; б — схема освещения сферического зеркала: 1 — в коллима-торной части спектрографа, 2 — в камерной части спектрографа лимационная схема, угол ? положителен. Для направления вдоль оптической оси объектива (? = a) справедливо условие дифракции

пік = 2d-sin а.

Ha рис. 12, а изображена часто применяемая автоколлимационная1 установка плоской отражательной дифракционной решетки со сферическим фокусирующим зеркалом. Свет, пройдя входную щель (/), отражается от зеркальца (6) и идет на сферическое коллиматорное-зеркало (2). Параллельный пучок света от этого зеркала падает на решетку (3). После решетки дифрагированные параллельные пучки света расходящимся веером падают на то же зеркало (2), которое сейчас служит камерным объективом и фокусирует их в плоскости

Рис. 13. Дифракционный спектрограф ДФС-8

спектра (5), расположенной под прямым углом к оси зеркала несколько выше решетки, если щель (/) И зеркальце (?) расположены ниже решетки. Легко сообразить, что в коллиматорной части зеркало (2) работает небольшой своей частью (1), соответствующей поверхности решетки (рис. 12,6). После решетки на зеркало падает узкая полоса света (J), пересекающая зеркало по горизонтали, однако для каждой длины волны работает только часть этой полосы, соответствующая размерам решетки. Дифракционные спектрографы ДФС-8 с зерка-Л°М ММ И пластинкой 13X18 (рис. 13) и ДФС-13 с зерка-

лом /=4000 мм и пластинкой 9X24 (рис. 14) являются примерами приборов с такой оптической схемой.

В зеркальных системах с плоской дифракционной решеткой не удается получать на фотографической пластинке достаточно большой участок спектра; этот участок АЛ определяется размерами зеркала и пластинки. Из (2.3) находим: т ¦ AX = d • cos? • A?. Если интервал углов дифракции A? приближенно определим через длину / фотографической пластинки и фокусное расстояние зеркала, тоАл = ^-^3.—
Предыдущая << 1 .. 10 11 12 13 14 15 < 16 > 17 18 19 20 21 22 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама