Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 18

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 12 13 14 15 16 17 < 18 > 19 20 21 22 23 24 .. 241 >> Следующая


JL — Jh--L--^L. tg . (2.56)

dl п Sin г dl 2 7

Из формулы (2.56) следует, что по отношению к линейной дисперсии наклон пластинки под углом є эквивалентен увеличению . фокусного

расстояния камерного объектива в отношении 1 :- .

sin E

Для вогнутой дифракционной решетки выражение для линейной дисперсии будет несколько иное, чем для плоской. Как это видно из рис. 15, при различных углах ? меняется угол є между лучом света, идущим от решетки, и поверхностью спектра (точнее, касательной к поверхности спектра); легко видеть,, что угол є = 90° — ?. Поэтому, вместо dl в выражении (2.5а) следует взять с?/-sin (90° — ?) -— = rf/-cos?. Кроме того, вместо f надо взять расстояние г' от решетки до спектра, которое также меняется с изменением угла ?, а именно r'=./?-cos?. Окончательно вместо (2.5а) имеем:

JL=-JHB-. ' (2.5в)

dl d cos ?

Можно сказать, что при установке решетки на круге Роуланда угол е<90° для каждого г' приводит к кажущемуся увеличению г' до R. Для области углов дифракции около ? = 0 линейная дисперсия постоянна с довольно высокой точностью, чего не дает никакая другая диспергирующая система. Линейная дисперсия в направлении, перпендикулярном лучу (т. е. г'), постоянна и не зависит от угла дифракции. Действительно, при подстановке в (2.5а) вместо / значения r'=^?cos? получаем, что -= . Это обстоятельство следует

d\ d

учитывать при рассмотрении наложения спектральных линий в фотоэлектрических приборах с вогнутыми решетками (квантометрах или полихроматорах).

38 На рис. 16 графически представлены значения обратной линейной дисперсии для различных типов спектральных приборов, кварцевых,, стеклянных и с дифракционными решетками. Кривые 1—5 дают изменение обратной линейной дисперсии для призменных спектрографов; по ним видно, как резко изме- „ няется значение дисперсии от А/мм одного конца спектра до другого. В противоположность этому обратная линейная дисперсия спектрографов с дифракционными решетками 600 штрихов/мм (пунктирные прямые) может быть принята практически постоянной для ДФС-9 в первом порядке 8 А/мм, для ДФС-8 в первом порядке 6 А /мм и для ДФС-13 в первом порядке 4 А /мм. Из этого рисунка следует также, что даже спектрограф ИСП-28 в коротковолновой области (короче 2500— 2300 А) имеет линейную дисперсию больше, чем дифракционные спектрографы с решеткой 600 штрихов/мм в спектре первого порядка. Это показывает, насколько велико влияние дисперсии показателя преломления вещества призмы в коротковолновой части. Если сравнивать ДФС-8 и KCA-I (кварц), то ДФС-8 выгоднее в отношении дисперсии в области к > > 3300 А. Переход к решетке 1200 штрихов/мм сдвинет эту область до 2700 А, зато вдвое сокращается фотографируемая на пластинке область спектра. Спектрографы со стеклянной оптикой (КСА-1 и ИСП-51, / = 800 мм) имеют большую линейную дисперсию только на краю фиолетовой области спектра; по всему видимому спектру спектрографы ДФС-9 и ДФС-8 имеют преимущество в линейной дисперсии. Спектрограф ИСП-51 с камерой / = 1300 мм в области Я. короче 4700 А имеет несомненное преимущество перед ДФС-13 с решеткой 600 штрихов/мм, однако последний выгоднее в области длин волн больше 4700 А.

Разрешающая способность спектрального прибора

Разрешающая способность характеризует способность прибора давать раздельно две близкие- спектральные линии. Количественно она определяется отношением длины волны к расстоянию между двумя

близкими едва различаемыми раздельно линиями R --.

Разрешающая способность определяется шириной так называемого инструментального контура спектральной линии. Этот контур зависит от многих факторов: от дифракции в действующем отверстии (обычно

7000 Л

16. Обратная линейная дисперсия различных спектрографов: 1 — кварцевый спектрограф ИСП-28; 2— спектрограф KCA-I с кварцевой оптикой; 3—спектрограф KCA-I со стеклянной оптикой; 4—спектрограф ИСП-51 с камерой /=800 м.и\ 5 — спектрограф ИСП-51 с камерой /=1300 мм; 6—дифракционный спектрограф ДФС-9 с решеткой 600 штрихов/мм-, 7 — дифракционный спектрограф ДФС-8 с решеткой 600 штрихов/мм; 8 — дифракционный спектрограф ДФС-13 с решеткой 1200 штрихов/мм

39 Рис. 17. Схема, иллюстрирующая различение двух близких спектральных линий

отверстии диспергирующей системы), от ширины входной щели, от погрешностей оптики, от разрешающей способности используемых фотографических эмульсий. Кроме того, разрешающая способность существенно изменяется при изменении относительной интенсивности разделяемых линий. В самом общем виде меру разрешающей способности можно определить следующим образом. Пусть имеем две спектральные линии Ai и A2 одинаковой интенсивности, контуры которых частично накладываются друг на друга (рис. 17). При наложении контуров в центре сложного контура получается некоторый минимум

интенсивности /мин между двумя максимумами /майс. По Д. С. Рождественскому, величина V =

= П[м;.кс~и.п ¦ может явиться

^•Ц'макс + 'мин)

критерием различения двух линий, если выбрать какое-то предельное значение V0 этой величины. Оно зависит от условий наблюдения; так, глаз может заметить разницу в ин-теноивностях в 5%, контрастная фотографическая пластинка — еще меньшую разницу. Поэтому в каждом отдельном случае желательно на опыте определить разрешающую способность, пользуясь спектром с большим числом близких спектральных линий (спектр Fe, вращательная структура в электронно-колебательных спектрах молекул CN, AlO и др.). Если мы определим таким образом мини* мальный интервал длин волн 6А, на котором еще можно различить две близкие линии, положив в основу различения заранее
Предыдущая << 1 .. 12 13 14 15 16 17 < 18 > 19 20 21 22 23 24 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама