Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 21

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 15 16 17 18 19 20 < 21 > 22 23 24 25 26 27 .. 241 >> Следующая


* 5 Л (2.8в>

Рис. 20. Изменение освещенности на фотографической пластинке в спектрографе при изменении ширины входной щели: 1 — для бесконечно тонкой спектральной линии; 2—для спектральной линии ширины Д X;

3 — для сплошного спектра



Выражение (2.8а) показывает также, что освещенность спектра зависит от относительного отверстия фокусирующей системы спектрографа со стороны камеры. Следует иметь в виду,, что для подсчета величины этого относительного отверстия надо брать не диаметр объектива камеры (как это часто делается), а диаметр круга, равновеликого площади действующего отверстия. Иногда таким действующим отверстием является объектив коллиматора, диаметр которого обычно меньше диаметра объектива камеры.

Изложенное показывает, что для правильного воспроизведения-интенсивности спектральной линии в фотографическом изображении

44 необходимо выбирать такую ширину щели, чтобы выйти на горизонтальный участок кривой 2 (рис. 20). Вместе с тем чрезмерное увеличение ширины щели не приводит к повышению освещенности для спектральных линий, в то время как сильно возрастает интенсивность сплошного фона, часто наблюдаемого в спектрах таких источников, как электрическая дуга и искра.

Интенсивность сплошного фона в спектре можно значительно снизить, если перейти к спектральному прибору с большей линейной

дисперсией , как это следует из (2.8в). Поэтому при помощи ди-

аК

фракционного спектрографа ДФС-13 можно обнаруживать более слабые линии на сплошном фоне спектра, чем с приборами меньшей дисперсии. Это обстоятельство особенно важно для фотоэлектрических методов анализа, когда выходная щель фотоэлектрического спектрального прибора берется несколько больше ширины спектральной линии.

Качество изображения спектральных линий также влияет на величину отношения интенсивности линии к интенсивности фона. Известно, что призменные спектрографы дают более широкий инструментальный контур, чем спектрографы с дифракционными решетками. Это имеет место вследствие разных причин: косое расположение пластинки относительно оси камеры, неоднородность оптических материалов при большой длине пути света в призмах и объективах, местные погрешности изготовления оптических поверхностей, невозможность точного совмещения поверхности фотографической пластинки или пленки с поверхностью спектра, которая вследствие аберраций оптической системы обладает довольно сложным профилем. Поэтому при пользовании спектрографами с дифракционными решетками также и по этой причине повышается чувствительность определения следов элементов.

Светосила монохроматора определяется выражением (2.7), если высота /' выходной щели и ее ширина s' таковы, что через выходную щель проходит весь лучистьпй поток, входящий в монохроматор в спектральном интервале, соответствующем измеряемой спектральной линии или ширине входной щели (в случае сплошных спектров). 8 этом случае приемник излучения регистрирует весь лучистый поток, если только пучок лучей, проходящий через выходную щель, полностью попадает на поверхность приемника. Иногда целесообразно в этом случае за выходной щелью ставить линзу, отображающую действующее отверстие монохроматора на поверхность приемника (например, фотокатод) с соответствующим уменьшением. Для увеличения лучистого потока необходимо, в соответствии с (2.7), увеличивать угловые размеры l/fi и s/fі входной щели и площадь действующего отверстия. Однако при регистрации линейчатых спектров увеличению входной щели могут поставить предел соседние спектральные линии, энергия которых будет добавляться к измеряемому лучистому потоку и искажать результаты. Остается тогда одна возможность — увеличение высоты щели, что и осуществляют в приборах с фотоэлектрической регистрацией.

При прохождении через монохроматор участка Ал сплошного спектра лучистый поток определяется несколько иначе. Пусть Фх — лучистый поток, рассчитанный на единичный спектральный интервал и сохраняющий постоянное значение в пределах АХ. Этот спектральный интервал определяется шириной s' выходной щели и линейной (или угловой) дисперсией:

д, ,dl s' dl

Al = s — =--.

dl fa d0

45 Величина лучистого потока Ф\ А к определится выражением

TatiT-T -T-jSfa'- (2'9>

Если размеры выходной щели соответствуют размерам входной (что

г

обычно осуществляется для монохроматоров), т. е. s' =S- - , то выЛ

ражение (2.9) несколько упрощается и дает следующую зависимость величины лучистого потока от квадрата ширины входной щели:

Кроме того, как видно из (2.9а), лучистый поток существенным образом зависит от угловой дисперсии диспергирующей системы и от квадрата диаметра действующего отверстия. Сравнение выражений (2.7) и (2.9а) показывает, что измеряемый лучистый поток для отдельной спектральной линии с увеличением ширины щели растет медленнее, чем для сплошного спектра. Это обстоятельство при исследовании линейчатых спектров может поставить предел увеличению ширины щели, если в изучаемом спектре имеется значительный сплошной фон. С такими обстоятельствами мы встречаемся, например, при применении фотоэлектрических методов эмиссионного спектрального анализа.
Предыдущая << 1 .. 15 16 17 18 19 20 < 21 > 22 23 24 25 26 27 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама