Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 24

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 18 19 20 21 22 23 < 24 > 25 26 27 28 29 30 .. 241 >> Следующая


Такие изменения температуры плазмы можно в значительной степени сгладить, если в пробу ввести значительное количество легко ионизируемых элементов натрия, лития или калия в виде галоидных солей или других легко диссоциирующих соединений. Эти атомы снижают температуру плазмы, которая становится слабо чувствительной к изменениям состава пробы, малым по сравнению с количеством этих элементов (спектроскопический буфер).

Необходимо отметить, что прочность химических соединений, вводимых в плазму дуги, также влияет на температуру плазмы, однако это влияние несколько слабее, чем влияние ионизационных потенциалов атомов.

Для решения задач эмиссионного спектрального анализа большое значение имеет знание распределения атомов и ионов в облаке разряда. Подача вещества в зону разряда часто осуществляется за счет испарения пробы, введенной в канал анода. Скорость испарения определяется реакциями, происходящими при высоких температурах анода, и летучестью образовавшихся химических соединений и элементов. Соединения различных элементов можно расположить в ряд по мере снижения летучести. Например, для окислов некоторых элементов наблюдается следующая последовательность появления спектральных линий: Zn, Pb, Mo, W, Mn, Mg, Fe, Si, Al, Nb, Та. При анализе сложных проб имеет место фракционное поступление элементов в зону разряда. Поэтому для получения представления о полном составе пробы необходимо обеспечивать полное выгорание пробы из углубления анода. Обычно в этих случаях делают несколько снимков спектра: первый спектр снимается в первые стадии горения дуги, затем, не прекращая горения дуги, передвигают кассету спектрографа в новое положение и делают новый снимок; наконец, при третьем положении кассеты снимают спектр последних стадий выгорания. В этом случае на первом спектре появятся линии легколетучих элементов, на третьем — труднолетучих, на втором — промежуточных. Можно было бы снять один спектр за все время горения пробы, однако такой спектр будет очень интенсивным с сильным фоном; при наличии многих линий возникнет большая вероятность наложения линий различных элементов, так как труднолетучие элементы дают обычно большое число линий.

Фракционирование составляющих пробы можно ускорить и обеспечить преимущественное поступление всех примесей с большей летучестью; для этого в порошок пробы вводятся в количестве 2—4% от пробы очень легко летучие окислы (например, окись галлия) в качестве так называемого носителя. Интенсивное испарение этого окисла способствует более энергичному поступлению в разряд всех легколетучих составляющих. Присутствие большого количества атомов носителя в зоне разряда существенно снижает диффузию, атомов легколетучих составляющих пробы из зоны разряда. Основной же элемент при этом почти не поступает в зону разряда и не загромождает спектр большим

50 количеством своих линий. Фракционность испарения можно несколько снизить, если пробу разбавить примерно вдвое графитовым порошком. Наличие этого порошка затрудняет спекание крупинок пробы в сплошной королек и способствует восстановлению окислов до металла.;

При анализе порошковой пробы сложного состава необходимо предварительно исследовать процесс испарения (фотографируя на движущуюся пластинку или получая серии спектров за время горения дуги) и установить время поступления подлежащих анализу элементов, т. е. построить кривые выгорания.

Фракционность поступления составляющих пробы из углубления в аноде вызывает серьезные затруднения при проведении количественного анализа, так как сильно снижает его точность.

Значительно более однородное поступление вещества наблюдается при нанесении пробы (из раствора) тонким слоем на поверхность угольного электрода, предварительно обработанного 3%-вым раствором полистирола в бензоле и высушенного. Достаточно однородное возбуждение составляющих сложной пробы наблюдается также, если сыпать порошок пробы через пламя горизонтально горящей дуги постоянного или переменного тока.

Общая концентрация атомов пробы в зоне дугового разряда невелика; непосредственное ее измерение показывает, что атомы пробы составляют всего лишь несколько процентов от общего количества частиц газа в пламени. Распределение этих атомов по оси разряда и по сечению имеет свои особенности. По сечению дуги при концентрациях ниже IO14 еж ~3 нейтральные атомы металлов распределены преимущественно в кольцевой наружной зоне; в направлении к оси разряда концентрация их несколько падает за счет более высокой температуры и большей степени ионизации. При концентрациях порядка IO15 см~3 и выше минимум на оси разряда исчезает и наблюдается достаточно равномерное распределение атомов по сечению разряда; на внешних границах разряда, естественно, наблюдается резкое падение концентрации атомов.

Вдоль оси разряда распределение атомов также изменяется; при введении пробы в канал анода около анода и на значительном протяжении к катоду концентрация атомов остается неизменной, и только на Ys длины промежутка непосредственно около катода наблюдается повышение этой концентрации в несколько раз. Обнаруживается, таким образом, прикатодный слой, обогащенный атомами пробы. При введении пробы в катод в прикатодном слое также наблюдается повышение концентрации элементов пробы, однако оно вполне естественно, гак как испарение производится из катода. Повышение концентрации атомов около катода оправдывает уже давно применяемый способ анализа в прикатодном слое.
Предыдущая << 1 .. 18 19 20 21 22 23 < 24 > 25 26 27 28 29 30 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама