Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 29

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 23 24 25 26 27 28 < 29 > 30 31 32 33 34 35 .. 241 >> Следующая


Равномерное распределение освещенности на щели спектрального прибора и вдоль спектральной линии можно также получить, если источник света поставить на месте диафрагмы (5) и линзы (5--7). В этом случае линза (9) перенесет его изображение в объектив (10—11), и условия равномерности освещения сохранятся. Однако в этом случае отдельные участки источника не выделяются, а используется излучение всех его частей.

Резкое изображение источника на щели (8) можно получить, если щель спектрального прибора расположить непосредственно за лин-

59 ЗОИ (6—7). в этом случае линза (6—7) должна быть подобрана так. чтобы давать изображение (4) на объективе (10—11). Величина этого изображения не должна быть больше действующего отверстия прибора.

Использование трехлинзовой системы с промежуточным изображением позволяет легко следить за положением источника и исправлять его во время фотографирования спектра регулировочными механизмами, имеющимися у штатива для электродов. Однако для этого необходимо, чтобы источник света уже горел, что бывает невыгодно, например, в тех случаях, когда имеется мало вещества или фотографирование надо начинать непосредственно после зажигания источника.

Рис. 32. Штатив для электродов ШТ-9

В этом случае используется дополнительная подсветка концов электродов лампочкой (1) с линзой (2), расположенными в штативе позади электродов. Освещенный лампочкой промежуток между электродами и тени последних проектируются линзой (4) на промежуточной диафрагме (5), и положение электродов оказывается доступным контролю.

Штативы для закрепления проб и электродов весьма разнообразны. Практически невозможно создать штатив, пригодный для решения всех аналитических задач. Часто требуется зажимать легкие цилиндрические электроды, детали и куски металла разнообразной формы и веса. При просыпке мелкого порошка через пламя дуги желательно иметь горизонтальное расположение электродов; далее, необходимо иметь возможность анализировать мелкие включения в шлифах металла и т. д. Поэтому прилагаемые к спектрографам штативы удовлетворяют лишь части требований и предназначены главным образом для анализа металлов и сплавов. В качестве примера рассмотрим штатив ШТ-9 (рис. 32). Он предназначен для работы с дугой постоянного и переменного тока, электрической высоковольтной искрой и импульс-

60 ним разрядом. Штатив позволяет использовать цилиндрические электроды и не очень тяжелые детали небольших размеров и состоит из плотно закрываемого металлического кожуха, внутри которого расположены держатели электродов. В штативе ШТ-9 эти держатели укреплены на открывающейся дверце, в более позднем его варианте держа-

Рис. 33. Спектропроектор ПС-18

тели находятся внутри штатива. Лампочка для подсветки электродов позволяет видеть расположение электродов по их изображению на промежуточной диафрагме; регулировка положения электродов возможна при закрытом штативе, для чего ручки управления механизма регулировки выведены наружу. Герметический кожух резко снижает шум от работающей искры и значительно снижает радиопомехи, даваемые в эфир электрическим разрядом между электродами.

Спектропроектор ПС-18 (рис. 33) является простейшим проекционным приспособлением, позволяющим рассматривать при 20-кратном увеличении спектры, полученные на фотопластинке или пленке.

61 Фотопластинка или фотопленка (в специальном адапторе) располагается на верхнем столике над проекционным объективом. Спектры рассматриваются на белом экране в нижней части прибора. Такой спектропроектор удобен при качественном спектральном анализе, особенно если использовать атласы спектров, приспособленные для' раз-

PiIC. 34. Микрофотометр МФ-2

личных спектральных приборов и для визуального количественного анализа по методу фотометрического интерполирования.

Микрофотометр МФ-2 (рис. 34) служит для фотометрирования спектров, полученных на фотопластинках или фотопленке. Оптическая схема изображена на рис. 35. От лампочки (/) конденсор (2) направляет свет в нижний из объективов (5), через который освещается небольшой участок пластинки (4), располагаемой на горизонтальном столике. Верхний из объективов (3) дает изображение участка спектра на экране (5), имеющем в середине вертикальную щель переменной

62 ширины. Свет, пройдя эту щель, попадает на селеновый фотоэлемент (6), соединенный с зеркальным гальванометром {11), установленным в задней части корпуса микрофотометра. Отсчетная система работает следующим образом. Свет от той же лампочки (1) через конденсор (13) падает на зеркальце гальванометра (11), после отражения от него системой зеркал (10) и (8) направляется на экран (7), где

МФ-2

при помощи объектива (9) получается изображение шкалы (12), расположенной у средней части конденсора (13). Отклонение этой шкалы относительно индекса экрана (7) дает отсчет либо прозрачности участка проявленного изображения (линейная шкала с делениями от 0 до 1000), либо оптической плотности этого изображения (по шкале почернений с делениями от 0 до

Прозрачность T и оптическая плотность S связаны между собой. Пусть I0—интенсивность света, проходящего через чистый участок пластинки, и /о = а/о — соответствующий фототок от фотоэлемента (отклонение гальванометра), I — свет, прошедший через изображение спектральной линии, и г = а/— соответствующий фототок. Тогда
Предыдущая << 1 .. 23 24 25 26 27 28 < 29 > 30 31 32 33 34 35 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама