Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 34

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 28 29 30 31 32 33 < 34 > 35 36 37 38 39 40 .. 241 >> Следующая


Метод исчезновения линий. В геологической практике широко используются два варианта полуколичественного метода. Если имеется несколько последних линий элемента с различной интенсивностью, то при последовательном увеличении концентрации этого элемента в пробе эти линии начнут появляться в спектре при определенных значениях концентраций. Предварительно по пробам с известным содержанием устанавливаются значения концентраций, при *которых появляется та или иная линия в спектре. При проведении анализа спектры пробы, фотографируются при тех же условиях, затем просматриваются визуально и устанавливается, какие из линий примеси появились в спектре; на основании этого определяется приближенная концентрация примеси.

При втором варианте проба фотографируется через специальный (ТО-ступенчатый) ослабитель, дающий в целом ослабление спектральных линий в 1000 раз (т. е. на три единицы в значении логарифма интенсивности). В этом случае можно при визуальном просмотре спектра установить, на какой ступеньке исчезает линия. Предварительно при помощи снимков спектров-эталонов можно построить гра-дуировочную кривую, где с одной стороны берется логарифм концентрации, с другой — номер ступеньки, на которой еще видна спектральная линия примеси. Этот график позволяет непосредственно в полевых лабораториях вести приближенный анализ содержания различных элементов в геологических пробах (при разведке полезных ископаемых), вполне удовлетворяющий потребностям разведки по точности и скорости его проведения. Для целей такого анализа широко используются спектрографы ИСП-28 и специальные ослабители. Г ла в а 4

ЭМИССИОННЫЙ КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ СПЕКТРАЛЬНЫЙ

АНАЛИЗ

§ 13. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭМИССИОННОГО КОЛИЧЕСТВЕННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА. КОНЦЕНТРАЦИОННАЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ

Задачей эмиссионного количественного спектрального анализа является определение неизвестной концентрации примеси по измерениям относительной интенсивности аналитической пары линий (примеси и основы или внутреннего стандарта). Это определение делается на основе предварительно найденной эмпирической зависимости между относительной интенсивностью линий в плазме разряда и концентрацией примеси в образцах с хорошо известным составом (эталонах). • Зависимость эта строится графически и дает градуировочную, или аналитическую кривую, связывающую / и С для каждого конкретного случая.

В настоящее время процессы, происходящие на электродах и в плазме разряда дуги или искры, изучены настолько, что возможно-установить некоторые физические явления и выявить требования, которые должны выполняться при проведении количественного анализа.

Обратимся к зависимости (3.1), определяющей (при отсутствии самопоглощения) связь между интенсивностью спектральной линииг условиями возбуждения в плазме разряда и концентрацией атомов в-нормальном состоянии в плазме разряда. Для относительной интенсивности (R) двух линий примеси (индекс 1) и основы (индекс 2) можем написать:

?? _?

R = А = e-^kT1 . (4.1)»

h N20 1 — Jf2

Здесь Ni0 и N20 — концентрации атомов примеси и основы в нормальных состояниях. Постоянная К содержит статистические веса состояний, вероятности излучения и длины волн линий.

Связь между концентрацией атомов 'N в плазме разряда и весовой концентрацией (С) этого же элемента в пробе может быть записана в общем виде:

= P (Q) |-. (4.2>

jv20 oa

Коэффициент P(Ci), строго говоря, не является постоянной величиной, а зависит от состава пробы и процессов, происходящих на электродах, определяющих выход вещества из пробы в плазму разряда. Процесс выхода вещества из электродов чрезвычайно сложен; он

73 ¦определяется процессами окисления сильно разогретого поверхностного слоя электродов, диффузией атомов отдельных элементов сквозь пленку окислов, химическим взаимодействием отдельных элементов пробы друг с другом и с газами атмосферы при высоких температурах и, в'озможно, другими процессами. Вполне естественно, что изменение состава пробы, введение в нее дополнительных элементов приводит к изменению, иногда весьма существенному, процесса выхода вещества. Все это относится к кругу так называемых влияний третьих составляющих. Эти влияния отражаются в количественных изменениях величины P(Q).

Выражение (4.1) может быть написано теперь в другом виде:

R = Kp (Ct) е~ ¦ Sl. . . (4.3)

I — Xl C2

Таким образом, в самом общем виде относительная интенсивность спектральных линий примеси и основы (или внутреннего стандарта)

зависит не только от концентрации Ci примеси или относительной кон-?

центрации —, но и от полного состава пробы (третьи составляющие) C2

и от температуры T возбуждения в плазме разряда.

Вполне естественно желание выбрать такие условия для проведения количественного анализа, чтобы иметь зависимость относительной интенсивности аналитической пары только от концентрации определяемого элемента. Это обеспечивается следующим образом.

С момента начала действия разряда поверхностный слой электродов непрерывно изменяется по составу, что находит свое отражение в изменении относительных интенсивностей спектральных линий в процессе «обыскривания», или «обжига» (кривые обыскривания рассмотрены в § 9). В большинстве случаев, когда процесс обыскривания закончен, т. е. когда в поверхностном слое установилось равновесие между уходом вещества в плазму разряда и поступлением из нижележащих слоев, коэффициент P(Ci) становится постоянной величиной и не зависит от состава пробы (регулярный выход вещества). Отсюда вытекает первое условие: производить количественный анализ после -окончания процесса обыскривания или обжига.
Предыдущая << 1 .. 28 29 30 31 32 33 < 34 > 35 36 37 38 39 40 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама