Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Аналитическая химия -> Бабушкин А.А. -> "Методы спектрального анализа " -> 43

Методы спектрального анализа - Бабушкин А.А.

Бабушкин А.А., Бажулин П.А., Королев Ф.А., Левшин Л.В. Методы спектрального анализа — МГУ, 1962. — 509 c.
Скачать (прямая ссылка): babushkinmetodispektralnogoanaliza1962.pdf
Предыдущая << 1 .. 37 38 39 40 41 42 < 43 > 44 45 46 47 48 49 .. 241 >> Следующая


Метод постоянной аналитической кривой. Метод трех эталонов непригоден в качестве экспрессного .метода из-за больших затрат времени на построение аналитической кривой. Поэтому практически важно проводить анализ по заранее построенной кривой.

Как уже отмечалось, положение аналитической кривой зависит от

90. свойств фотографической пластинки. Поэтому нельзя пользоваться одной кривой для проведения анализа проб по спектрам, полученным на разных пластинках. Указанное обстоятельство приводит к тому, что градуировка, проведенная по методу трех эталонов для одной фотопластинки, не пригодна для последующих.

Для того чтобы получить постоянную аналитическую кривую, необходимо исходить из выражения

lg/? = — ^b IgC +Iga. (4.24)

Y

Если работать в области нормальных почернений, то' аналитическая прямая, построенная в координатах Ig/? и IgC, не будет зависеть от коэффициента контрастности пластинки.

В этом случае следует определять величину у для пластинок, на которых сняты спектры эталонов, и для пластинок со спектрами анализируемых проб. Это легко сделать, если один или несколько спектров на каждой пластинке фотографировать через трехступенчатый ослабитель, прилагаемый к каждому спектрографу. Такой ослабитель имеет пропускаемость ступенек приблизительно 100, 50, 20% (прозрачность ступенек необходимо знать точно). В случае отсутствия трехступенчатого ослабителя или его градуировки можно фотографировать спектр через девятиступенчатый ослабитель. Берутся две ступеньки ослабителя с пропускаемостью си и Если обозначить через -Si и S2 нормальные почернения двух ступенек одной из линий аналитической пары или произвольной соседней линии, то можно написать:

Si = У Ig(^1I)-i, S2 = YlgK/)- і. Откуда, вычитая, получим:

AS1 г - Y Ig —. или Y = AS''2 • (4.25)

аг

Значит, для определения величины у нужно найти при помощи микрофотометра почернения двух ступенек одной и той же линии, лежащие в прямолинейной области характеристической кривой, и разделить на логарифм отношения пропускаемое™ соответствующих ступенек ослабителя.

Этот способ учета величины у можно видоизменить так, что не по-" требуется знания точного значения пропускаемости ступенек ослабителя. Если взять выражение (4.25) для другой пластинки, то отношение разностей почернений двух ступенек

-^й-=*-*- = * (4.26)

ASli2 ' у'

будет характеризовать изменение величины у при переходе от одной пластинки к другой. Как видно, в этом случае исключается вели-1

чина Ig —.

«2

На этом основан учет изменения величины у в методе переводного множителя. •

Метод переводного множителя. Пусть на первой (основной) пластинке сняты спектры эталонов через трехступенчатый ослабитель и построена аналитическая прямая, выражающаяся для этой пластинки формулой

91 AS = Y' b- IgC+ lga; кроме того, измерена величина ASi,2 для этой же пластинки. На другой пластинке, где сняты спектры проб, также измерена величина AS'i.2, однако для этой пластинки аналитическая прямая имеет иной вид: AS'= Y^lgC + y'lga, и для проведения анализа нельзя пользоваться прямой, построенной для основной пластинки. Умножим величины AS' второй пластинки на величину k (4.26), тогда получим:

ДS'k = -Ir (у'Ь Ig С + у' Ig a) = Y Ь Ig С + у Ig а. (4.27>

Y

Правая часть этого равенства представляет собой аналитическое выражение прямой, построенной для основной пластинки. Однако, как показывает (4.27), вместо AS' для проведения анализа необходимо брать величины AS'-k. Умножение на величину k переводит значения AS' в значения, пригодные к использованию по основной аналитической прямой. В силу этого множитель k получил название переводного множителя. С целью повышения точности анализа, проводимого по методу переводного множителя, необходимо величину k определять каждый раз из нескольких спектров, полученных через трехступенчатый ослабитель.

Метод контрольного эталона. Опыт показывает, что постоянные аналитические прямые, построейные по одним и тем же эталонам, снятым на разных фотопластинках, испытывают небольшие параллельные сдвиги и изменяют свой наклон. Это объясняется некоторым изменением интенсивности фона в спектре, а также неконтролируемыми изменениями в условиях возбуждения спектра (случайные изменения сопротивления в контактах, утечка зарядов и пр.). Часто это «ползание» аналитической прямой сводится к параллельному смещению. Учет такого смещения производится при помощи фотографирования на пластинке с пробами спектра одного из эталонов (лучше для средней концентрации), называемого контрольным эталоном. Если точка, соответствующая этому эталону, попадет на аналитическую прямую, то анализ проводится по основной прямой. Если же эта точка сошла с прямо» вверх или вниз, то через новое положение этой точки проводится параллельная прямая, по которой определяется данный эталон в анализируемой пробе. Контрольный эталон применяется в некоторых случаях для анализа проб, принадлежащих разным сплавам. Установ, лено, что разные сплавы с одной и той же основой часто имеют параллельные аналитические прямые. Если известна аналитическая прямая для одного из таких сплавов, то можно построить аналитическую прямую для другого сплава, если иметь контрольный эталон для этого сплава. Последний может подбираться из числа производственных проб, причем он должен тщательно анализироваться и по своему составу отвечать приблизительно средним концентрациям для данного сплава.
Предыдущая << 1 .. 37 38 39 40 41 42 < 43 > 44 45 46 47 48 49 .. 241 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама