Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Сидельковская Ф.П. "Химия N-вннилпирролидона и его полимеров" ()

Сеидов Н.М. "Новые синтетические каучуки на основе этилена и олефинов" (Высокомолекулярная химия)

Райт П. "Полиуретановые эластомеры" (Высокомолекулярная химия)

Попова Л.А. "Производство карбамидного утеплителя заливочного типа" (Высокомолекулярная химия)

Поляков А.В "Полиэтилен высокого давления. Научно-технические основы промышленного синтеза" (Высокомолекулярная химия)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Энергетическая химия -> Русии С.П. -> "Тепловые излучения полостей " -> 47

Тепловые излучения полостей - Русии С.П.

Русии С.П., Пелецкий В.Э. Тепловые излучения полостей — М.: Энергоиздат, 1987. — 152 c.
Скачать (прямая ссылка): teplovieizucheniyapolostey1987.djvu
Предыдущая << 1 .. 41 42 43 44 45 46 < 47 > 48 49 50 51 52 53 .. 61 >> Следующая

Найдено, что по сравнению с полированным образцом (имеющим класс чистоты поверхности 11 в, Ra = 0,06 мкм) ИПИС шероховатых образцов больше: для Ra = 0,6 мкм — на 8 - 10%; для Ra = 1,0 мкм -на 19 - 22%.
Измерения здесь были выполнены в интервале температур 1200 — 1700 К. Отмечено, что с ростом температуры прирост ИПИС из-за шероховатости уменьшается.
В [71] представлены результаты изучения роли шероховатости на ниобиевых образцах. Важно подчеркнуть, что и здесь измерениям предшествовал вакуумный отжиг металла, стабилизирующий состояние его поверхности. Получены следующие результаты:
Класс чистоты...........12в 86 8а 76 7а
К (1200).............. 1,00 1,07 1,1 1,14 1,16
К (2000).............. 1,00 1,05 1,07 1,11 1,13
Здесь К — отношение ИПИС шероховатого образца к величине ИПИС образца, поверхность которого полирована; цифры в скобках указывают величину температуры, К.
В опытах с ниобием также обнаружено влияние температуры образца на прирост излучательной способности из-за развития шероховатости поверхности.
Влияние шероховатости на ИПИС металлов излучалось также калориметрическим методом с электронным нагревом образца [72, 73].
В [72] был изучен вольфрам в интервале температур 1200-3400 К. Изучались образцы с шероховатой поверхностью, сформированной в процессе ротационной ковки металла, и полированные образцы. Найдено, что рост среднеквадратичной высоты микронеровностей с 0,2 мкм (полировка) до 12,7 мкм (поверхность после ковки) приводит к росту ИПИС на 12% при 1200 и на 18% при 3400 К. Таким образом, по данным этой работы рост температуры приводит к увеличению относительного влияния шероховатости поверхности.
Тем же методом в [73] были изучены 3 образца молибдена различной шероховатости. Поверхности двух образцов обрабатывались наж-122
дачной бумагой, контрольный образец полировался. Для иллюстрации температурной зависимости ИПИС приведем таблицу полученных данных в абсолютных значениях:
В скобках указаны классы чистоты. Отметим, что данные для полированного образца в [73] практически совпадают с данными [70]. Качественно совпадают выводы этих двух работ о роли температуры. Однако влияние шероховатости в [73] найдено меньшим, чем в [70]. Рост высоты микронеровностей с 0,44 до 9,5 мкм вызывает здесь при 1200 К увеличение ИПИС всего на 10%.
Описанные факты характеризуют возможное влияние микрошероховатости. Длина волны, соответствующая максимуму интенсивности теплового излучения в интервале температур 1000—3000 К изменяется от 2,9 до 0,96 мкм, т.е. имеет тот же порядок, что и характерные размеры микронеровностей изученных образцов.
6.2. Шероховатость и интегральная направленная
излучательная способность 1ИНИС)
При измерениях ИНИС источником информации является поток лучистой энергии, сосредоточенный в пределах достаточно малого телесного угла, определяемого апертурой приемника излучения. Изменяя расположение приемника относительно нормали к изучаемой поверхности, можно установить угловое распределение интенсивности теплового излучения объекта, и, следовательно, проверить выполнение закона Ламберта для реального излучателя.
В [74] влияние микрошероховатости изучалось на диэлектрических и металлических образцах. Примененнный здесь радиометр фиксировал излучение в телесном угле п/2900 ср. Термобатарея радиометра имела чувствительность, не зависящую от длины волны в спектральной области 0,15 - 15 мкм.
Окна в рабочей камере позволяли изменять угол визирования от нормали к поверхности образца до 81°. Измерения были проведены в интервале температур 800—900 ° С. В качестве диэлектрических образцов использовались стеклянные пластины толщиной ~ 6 мм. Один из образцов . был полирован до зеркального состояния, на остальных шлифовкой в одном направлении создавалась однонаправленная шероховатость со среднеквадратичной высотой микронеровностей о от 1,15 до 4,7 мкм.
Температура, К (10 в) . . (9 в) . . (6 а) . . .
1200 1400 1600 1800 2000
0,115 0,140 0,165 0,190 0,214
0,118 0,142 0,167 '0,192 0,216
0,126 0,150 0,176 0,201 0,225
123
2,0
е
0,5
2
1
/
/
0,25
0,50
0,2 0,4 0,6 0/3 1,0
Si п2(в)
О
Рис. 6.1. Нормализованная ИНИС шероховатого и полированного образцов алюминия по данным [74]:
1 - шероховатый образец (а - 4,7 мкм); 2 - полированный образец (а =
= 0,04 мкм)
РиС. 6.2. Зависимость ИНИС образцов нержавеющей ста(ли от среднеарифметической высоты неровностей [75 ]:
1 - в= 10°; 2- 70°; 3 — 80°
ИНИС, еп •?, измеренная в направлении нормали к поверхности, следующим образом изменяется в зависимости от высоты микронеровностей:
а, мкм..................... 0,04 1,15 3,8 4,7
Здесь индексы ”ш” и ”г” означают: шероховатая и гладкая поверхность соответственно. Таким образом, по измерениям рассматриваемой работы ИНИС диэлектриков практически остается постоянной при увеличении шероховатости поверхности. Отметим, однако, что этот вывод получен на образцах с высокими значениями ИНИС (> 0,9), к тому же прозрачными для части спектрального интервала. В этих условиях трудно рассчитывать на рост излучательной способности при загрублении поверхности, так как параметр р меняется мало (см. § 5.3.1).
Предыдущая << 1 .. 41 42 43 44 45 46 < 47 > 48 49 50 51 52 53 .. 61 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама