Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Органическая химия -> Анюхин В.З. -> "Практикум по химии и технологии полупроводников" -> 22

Практикум по химии и технологии полупроводников - Анюхин В.З.

Анюхин В.З., Гончаров Е.Г., Кострюкова Е.П. Практикум по химии и технологии полупроводников — М.: Высшыя школа, 1978. — 191 c.
Скачать (прямая ссылка): praktikumpohim1978.djvu
Предыдущая << 1 .. 16 17 18 19 20 21 < 22 > 23 24 25 26 27 28 .. 80 >> Следующая


(одило равномерно и продукты травления не оседали на шлифе, летод требует большого расхода реактивов. При других способах

наждачной пыли и поворачивают на 90

Затем шлифуют на очередном номере на^^^ реагенты наносят из капельницы, на полированную поверх-

V X ССТ! ,огть или втирают в нее ватой. Время действия травителя определяют

рутся следы предыдущей обработки ° п просматривая шлиф под микроскопом. Визуально это

Обычно шлифовку проводят на 4-5 не " ить'нель3я, так как некоторые сплавы сохраняют блестящую

мерах шлифовальной бумаги. После тот ^ ?хностьив травленном виде. Недотравленные образцы снова поли-

кои шлифовки образец очищают от пылй J? течеш1е ^3 шш а затем травят более продолжительное время, промывают и проводят механическую пс У щлифы бьи№ приготовлены заранее, то перед травлением их .лировку (возможна также химическая юверхнос? активизируют кратковременной полировкой. Приго-

овление шлифов для изучения микротвердости производится таким

или электролитическая полировка), ровка также может быть осуществлена н; специальном полировальном станке или вручную. Для этого на стекло кладут кусок фетра или диск станка обтягивают фетром (сукном), который смачивают полировальной жидкостью. Последняя представляет собой мелкодисперсные взвеси B1 воде одного из окислов: AK2O3, Cr2O3, Fe2O3 и т. п. При полировке не следует сильно нажимать на образец. Заканчивают полировать тогда, -когда поверхность образца становится зеркальной, а под микроскопом не видны риски от шлифовки. После полировки шлиф промывают водой, обезжиривают спиртом, эфиром или ацетоном и высушивают.

Приготовленные таким образом шлифы изучают под микроскопом сначала в не протравленном виде и при малом уве личении (ХІОО). Это позволяет составить представление о поле шлифа, о наличии и количестве макродефектов (трещин, пор) о посторонних включениях, которые часто проявляются и на негравленных образцах. Посторонние фазы особенно хорошо заметны, если они резко отличаются от основной массы по окраске или во своей отражательной способности. Иногда фазы имеют слишком разную твердость, и тогда более твердая фаза

РиС. 27. Изотермы микротвердости для диаграмм состояния различного типа

ке образом. Микротвердость измеряют на травленных образцах, іричем выбирают такой травитель, который характеризуется меньшей» коростью взаимодействия с поверхностью образца.

Измерение микротвердости. Микротвердость обычно измеряют на ех же образцах, которые готовили для исследования структуры, {ля определения микротвердости используют прибор типа ПМТ-3. Четод обладает высокой чувствительностью, что иногда играет отри-іательную роль, так как любые посторонние факторы сильно влияют а величину микцотвердости. Поэтому при изучении микротвердостй ледует тщательно готовить образцы и соблюдать необходимые правила при проведении измерений.

1. Необходимо проверить центрировку и юстировку прибора (см. инструкцию к ПМТ-3). Центрировка прибора заключается в 'становлении точного совмещения при повороте предметного столика ¦а 180° оптической оси микроскопа прибора с осью механизма нагру-кения.

Юстировку проводят на монокристаллических образцах aCl, алюминия или олова. Механизм нагружения устанавливают на акУю высоту, чтобы в рабочем состоянии острие алмазной пирамид-слегка касалось поверхности испытуемого шлифа. Если при на-РУзке 0,5 г можно получить отпечаток в виде точки (под микроскопом),. оез нагрузки отпечатка не получается, то юстировку прибора счи-а'°т правильной.

На величину микротвердости влияет измерение при разных на-Рузках. Поэтому те измерения, которые необходимо сравнивать, Ф0ИЗВ|

БО

одят при одной и той же нагрузке.

L

51 3. Следует придерживаться определенной скорости нагружени| выдержки под нагрузкой. Быстрое нагружение снижает значения | кротвердости, так как деформация образца при этом происходит! только вследствие статического действия груза, но и за счет дина ческого действия. При длительной выдержке под нагрузкой из| сотрясений и вибраций, которые возможны в помещении, результ измерений также искажаются. Лучшее время нагружения 5—8 выдержки под нагрузкой 5—10 с.

4. Необходимо как можно точнее измерять диагонали отпечатц Для этого надо следить, чтобы поверхность шлифа была строго пар! лельной предметному столику и ее изображение в поле зрения мик| скопа — контрастным.

5. Лучшие результаты получаются на крупнозернистых образц ДЛЯ чего последние подвергают гомогенизирующему отжигу, KOTopI устраняет и внутрикристаллитную ликвацию. Это явление в не женных образцах обнаруживается. по неодинаковым значениям <| кротвердости в центре зерна и на его периферии.

6. Для расчета микротвердости необходимо измерить диагон! пяти-шести отпечатков алмазной пирамиды и взять среднее ари тическое. Длину диагонали определяют в делениях шкалы окул! микрометра по разнице отсчетов в начале и конце диагонали. Раз| ца отсчетов N, умноженная на цену деления измерительного бара в микронах С, является истинной величиной диагонали отпечатка|
Предыдущая << 1 .. 16 17 18 19 20 21 < 22 > 23 24 25 26 27 28 .. 80 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама