Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Сидельковская Ф.П. "Химия N-вннилпирролидона и его полимеров" ()

Сеидов Н.М. "Новые синтетические каучуки на основе этилена и олефинов" (Высокомолекулярная химия)

Райт П. "Полиуретановые эластомеры" (Высокомолекулярная химия)

Попова Л.А. "Производство карбамидного утеплителя заливочного типа" (Высокомолекулярная химия)

Поляков А.В "Полиэтилен высокого давления. Научно-технические основы промышленного синтеза" (Высокомолекулярная химия)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Другое -> Лакович Дж. -> "Основы флуоресцентной спектроскопии" -> 30

Основы флуоресцентной спектроскопии - Лакович Дж.

Лакович Дж. Основы флуоресцентной спектроскопии — М.: Мир, 1986. — 496 c.
Скачать (прямая ссылка): osnovifluriscentnoyspektroskopii1986.djv
Предыдущая << 1 .. 24 25 26 27 28 29 < 30 > 31 32 33 34 35 36 .. 185 >> Следующая

Метод счета единичных фотонов имеет несколько преимуществ. Временное разрешение весьма хорошее, вероятно ~ 0,2 не. Такое разрешение возможно потому, что электроника должна обеспечить только измерения времени импульса, а не его точной формы.Во-втррых, высококачественные, электронные компоненты и даже готовые приборы имеются в продаже.
В таких счетчиках фотонов качество электронных узлов обычно выше, чем оптических. Наконец, метод счета единичных фотонов высокочувствителен. Необходимо только работать с разбавленными растворами, и из-за низких интенсивностей возбуждающего света обычно устраняются проблемы, связанные с фоторазложением флуорофоров.
3.4. Анализ кривых затухания флуоресценции
Кривые затухания флуоресценции измеряют для того, чтобы определить импульсную функцию отклика F{t). Это то затухание, которое наблюдалось бы для бесконечно короткого возбуждающего импульса либо для импульса, имеющего длительность, намного меньшую времеии затухания флуоресценции образца. К сожалению, часто длительности импульсов сравнимы с временами затухания, что показано на рис. 3.7 для случая фосфолипидных везикул, помеченных зондом 2-толуидинил-6-нафталинсульфоновой кислоты (TNS). Из-за конечной длительности вспышки лампы не определяется ну» левой момент времени, и поэтому для определения времен затухания нельзя просто оценить интенсивность на уровне 1/е. Далее, испускание данного образца нельзя представить с помощью одпоэкснопоициалыюго закона затухания, что опять ограничивает возможности определения интенсивности на уровне 1/е, а также возможности подсчета наклона зависимости lgF(t)or t.
Зависимость интенсивности вспышки от времеии [L(t)] обычно определяют в отдельном эксперименте. Поскольку форма вспышки меняется со временем, измерения необходимо проводить непосредственно до или после измерения затухания флуоресценции. Обычно L(t) измеряют, используя
Номер нанама
РИС. 3.7. Графическое выражение закона затухания флуоресценции фосфоли-пидных везикул с метками TNS (по данным [б]).
1 - измеренная форма вспышки лампы; 2- затухание флуоресценции меченых везикул. Кривая з, полностью совпадающая с кривой 2, - рассчитанная величина R (t), попученная с использованием трехкомпонеитного анализа. Кривая 4 — от-кпонение в процентах [r 4(t) — R(tj\/R(t), На вставке изображена автокорреляционная функция разностей, с помощью которой регистрируют систематическое отклонение r (t) от /{(г).
раствор, рассеивающий свет. Пусть R(t) - наблюдаемое затухание флуоресценции и нам необходимо определить из данных L(t) и R{t) функцию отклика F(t). Известно, что R(t) определяется сверткой вспышки с функцией отклика образца, а именно:
R{t) (3*22)
о
Вывод этого выражения хорошо описан несколькими авторами [2, 381* Импульс лампы можно рассматривать как большое число коротких импульсов, приходящих во время и{. и имеющих равную длительность At (причем Дг гораздо меньше времени затухания флуоресценции образца). Каждый такой импульс вызывает импульсный отклик образца:
Ri (О = L(ti)&tF(t -t{) (t> ti)
(3.23)
Член (t -t{) появляется потому, что затухание флуоресценции необходимо рассматривать по отношению к моменту возбуждения, которое в данном случае равно ti Ясно, что для t < Я,- (0 = 0. Измеряемое затухание являет-
ся суммой этих индивидуальных импульсов:
t =t,-
R{t) = 2 L{t;)F{t (3.24)
? = 0
Когда Дг приближается к нулю, уравнение (3.24) преобразуется в интеграл свертки, описываемый выражением (3.22). Для удобства выбирают переменную таким образом, чтобы в функцию отклика не входил член (t -?,¦). Используя замену переменной t1 = t - ц, получаем из уравнения (3.22)
R(t)~fL(t -ii)F(M)dM (3.25)
о
Задача состоит в определении импульсной функции отклика из данных свертки.
3.4.1. Анализ затухания флуоресценции методом наименьших квадратов
Было предложено множество методов расчета импульсной функции отклика F(t) из измеренных кривых затухания R(t) и профиля вспышки L(t), обзор которых приведем в статье О'Коннора и др. [7]. Для большинства целей, вероятно, наиболее надежные результаты можно получить с помощью метода наименьших квадратов [8], используемого и в имеющихся в продаже устройствах для обработки данных. До настоящего времени этот способ наиболее широко применяли для данных, полученных методом счета единичных фотонов.
Основу метода наименьших квадратов составляет расчет ожидаемой величины R[t) из подобранных значений и т, [ уравнение (3.20)]. В частности, рассчитывают интеграл свертки (3.25), используя предполагаемые значения а . и т,- и измеренный профиль вспышки лампы. Рассчитанные величины [Rc (г)] сравнивают с наблюдаемыми [/?(?)]* Значения а; и т,-варьируют до получения наилучшего совпадения расчетных и экспериментальных кривых. Среднеквадратичное отклонение (х2) находят по формуле
П
X2 = Z^?[R(t) - Rc(t)l2, где М.-1 /R(t) (3.26), (3.27)
Предыдущая << 1 .. 24 25 26 27 28 29 < 30 > 31 32 33 34 35 36 .. 185 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама