Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Другое -> Шмидт В.В. -> "Сверхпроводящее соединение ниобий- олово" -> 22

Сверхпроводящее соединение ниобий- олово - Шмидт В.В.

Шмидт В.В. Сверхпроводящее соединение ниобий- олово — М.: Металлургия, 1970. — 294 c.
Скачать (прямая ссылка): sverhprovodyashiy1970.djvu
Предыдущая << 1 .. 16 17 18 19 20 21 < 22 > 23 24 25 26 27 28 .. 90 >> Следующая

20 2 1 0 03;С 50 15 45 21.31 21,41 21.51 21.31 21.51 13.94 14.04 14,14 14.04 13.94 5440 5669 5353 5440 5353 1119 1186 1114 1114 1119 4,86 4.78 4,80 4,88 4.78 76.0 75.7 75.8 76.0 75,7 0,3 ол 0,3 0 0,40 0,13 Qj 40 0

Ориентация1 2 0 5°;С 50 15 45 21,41 14,04 5725 1190 4,81 75,8 — —
5 °;С 21,41 14,04 5514 1125 4,90 76,1 0,3 0,40
10° ;С 21,41 14,04 4922 984 5,00 76,4 0,6 0,79
20°;С 21,41 14,04 4995 1004 4,98 76,4 0,6 0,79
45°;С 21,41 14,04 3365 620 5,43 77,6 1,8 2,37
90°;С 21,41 14,04 2580 470 5,49 77,8 2,0 2,64
Позиция1 2 0 0°;С 50 15 45 21,41 14,04 5918 1232 4,80 75,8 — —
0°;L 21,41 14,04 5181 1063 4,87 76,0 0,2 0,20
0°;R 21,41 14,04 5014 1024 4,90 ' 76,1 О,^ 0,40
90 °;Г ,21,41 14,04 2835 515 5,50 77,8 2,0 2,64
90° ;С 21,41 14,04 2580 467 5,52 77,8 2,0 2,64
90° ;В 21,41 14,04 2159 398 5,42 77,6 1,8 2,37
Расстояние 20 0°;С 50 15 45 21,41 14,04 5918 1232 4,80 75,6 —
21,41 14,04 4829 990 4,88 76,0 0,2 0,26
> к 21,41 14,04 5058 1001 5,05 76,5 0,7 0,92
5 21,41 14,04 3220 572 5,63 78,0 2,2 2,90
Число обоаз- 1 0 °;С 50 15 45 21,41 14,04 2557 525 4,87 76,0 0,2 0,26
IrlvViV цбв в оправ- 2 21.41 21.41 14.04 14.04 5790 6999 1200 1473 4,82 4,75 75,8 75,6 -0,2 —0,26
ке 21,41 14,04 8404 1806 4,65 75,4 -0,4 —0,52
5 21,41 14,04 8880 1902 4,67 75,4 -0,4 -0,52
Форма1 Обычная 0°;С 50 15 45 21.41 21.41 14.04 14.04 5790 3850 1200 795 4,82 4,84 75,8 75,9, 0,1 0.13
V.AJ 21,41 14,04 4708 962 4,89 76,1 0,3 0,40
V"/ 21,41 14,04 5588 1116 501 76,4 0,6 0,79
(Л 21,41 14,04 3777 745 5,07 76,6 0,8 1,06
y*t (5) 21,41 14,04 4552 853 5,33 77,3 1,5 1,98

1 Пояснение см. на стр. 70 и 71.
Анодное напряжение определяет эффективную длину волны первичного рентгеновского спектра. При более вы-соких напряжениях эффективная длина волны уменьшается. При этом увеличивается глубина проникновения и возбуждение. Особенно это оказывает влияние на интенсивность линии Sn^ Влияние тока эмиссии легко объяснимо, особенно когда ток достаточно высок для одной линии и слишком мал для другой. Причина заметного влияния ориентации лент на результаты анализа неясна, однако подобный же эффект был обнаружен при анализе проволок с покрытием [5].

Изменения параметров экспериментов, описанные выше, более значительны, чем в обычной практике. Кроме того, изменение условий производили только при съемке образцов, но не стандартов. Отношение концентраций по результирующему отношению интенсивностей находили с помощью калибровочной кривой, полученной для. стандартов, снятых в нормальных условиях. Если же образцы и стандарты снимались в одинаковых условиях съемки, пусть даже неправильных, то наблюдавшиеся отклонения в определяемой концентрации были значительно меньшими. На основе этих данных и по результатам, приведенным в табл. 5, можно считать, что применение метода отношения интенсивностей нивелирует влияние различных переменных факторов рентгеноспектрального анализа.

Влияние природы образцов. Качество самого образца оказывает заметное влияние на получаемые результаты. Ниже рассматриваются основные факторы.

На величину отношения интенсивностей Nbjra /Snка может оказывать влияние подложка. Это влияние наиболее заметно в том случае, когда линии подложки усиливают линии покрытия, особенно если усиливается только одна линия или усиление линий неодинаково. Большинство измерений проведено на образцах с подложками трех типов: лентами из платины, лентами из сплава на никелевой основе с платиновым покрытием и керамическими. Для анализа образцов на керамических подложках использовали эталоны на керамических подложках, а для образцов в виде лент — эталоны в виде платиновых лент, покрытых цементной массой.

Существенное влияние на результаты измерения может оказать толщина сверхпроводящего по-

74
к р ы т и я. Допустим, что покрытие АВ является относительно непрозрачным для спектральных линий элемента Л, но относительно прозрачно для линий элемента В. Тогда по мере увеличения толщины покрытия при неизменном составе оно становится бесконечно толстым для линий элемента А, и при этом интенсивность 1а становится постоянной. Интенсивность /в продолжает увеличиваться с ростом толщины покрытия до тех пор, пока не будет достигнуто значение непрозрачной (бесконечной) толщины для линий элемента В. После этого отношение 1аЦв становится постоянным. Таким образом, отношение 1А11 в может зависеть от толщины покрытия при неизменном его составе. Этот эффект становится наиболее заметным при значительном отличии массовых коэффициентов поглощения для спектральных линий двух компонентов, составляющих покрытие. Толщина покрытия на керамических подложках обычно больше, чем величина, необходимая для полной непрозрачности линий NbKa и Sn*-a. Толщина покрытия на металлических подложках не достигает этой величины для обоих элементов, однако покрытие равномерно по толщине, что значительно уменьшает ошибку.

При использовании метода отношения интенсивностей необходимо, чтобы между покрытием и подложкой существовала резкая граница. Однако предполагается наличие переходной зоны, в которой проходят диффузионные процессы. Та часть эмиссии и Sn*-a ,
Предыдущая << 1 .. 16 17 18 19 20 21 < 22 > 23 24 25 26 27 28 .. 90 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама