Главное меню
Главная О сайте Добавить материалы на сайт Поиск по сайту Карта книг Карта сайта
Книги
Аналитическая химия Ароматерапия Биотехнология Биохимия Высокомолекулярная химия Геохимия Гидрохимия Древесина и продукты ее переработки Другое Журналы История химии Каталитическая химия Квантовая химия Лабораторная техника Лекарственные средства Металлургия Молекулярная химия Неорганическая химия Органическая химия Органические синтезы Парфюмерия Пищевые производства Промышленные производства Резиновое и каучуковое производство Синтез органики Справочники Токсикология Фармацевтика Физическая химия Химия материалов Хроматография Экологическая химия Эксперементальная химия Электрохимия Энергетическая химия
Новые книги
Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 2" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 1" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 12" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 11" (Журналы)

Петрянов-соколов И.В. "Научно популярный журнал химия и жизнь выпуск 10" (Журналы)
Книги по химии
booksonchemistry.com -> Добавить материалы на сайт -> Промышленные производства -> Анохин В.3. -> "Практикум по химии и технологии полупроводников" -> 21

Практикум по химии и технологии полупроводников - Анохин В.3.

Анохин В.3., Гончаров Е. Г., Кострюкова Е. П., Маршакова Т. А. Практикум по химии и технологии полупроводников: учебное пособие — M.: «Высшая школа», 1978. — 191 c.
Скачать (прямая ссылка): poluprovodniki.djvu
Предыдущая << 1 .. 15 16 17 18 19 20 < 21 > 22 23 24 25 26 27 .. 81 >> Следующая


растворам а или ? соответственно. Спла вы состоят из однородных кристаллої поэтому по микроструктуре тверды растворы ничем не отличаются от щ дивидуальных веществ (простых ид соединений) (рис. 25, а). Такую кар тину можно наблюдать при равновесщ кристаллизации. На практике часто процессы кристаллизации иду быстро, и если не было предварительног отжига образца при температуре неї колько ниже линии солидуса, то мин роструктура оказывается неодноро; ной вследствие того, что диффузия в успела завершиться. Внутренняя часі кристаллов обогащена более тугопла кими компонентами, к периферии ка центрация их уменьшается. Это явленя называется внутрикристаллитной ликвацией.. При химической обрі ботке шлифов кристаллиты травятся неравномерно и наблюдаете так называемая зональная структура (рис. 25, б). Во. избежание этот явления кристаллизацию надо вести медленно или производить отжі при температуре на 30—50° ниже линии солидуса. Повышенная та пература ускоряет диффузионные процессы, и концентрация коми нентов в кристаллитах выравнивается.

Для составов, взятых между точками M и С, микроструктура иШ фов характеризуется наличием матрицы а-твердого раствора и вклк чений вторично выделившегося ?-твердого раствора, который обрі зуется вследствие уменьшения растворимости компонента В в при понижении температуры (рис. 24 и 25, в). Аналогичную картин представляет микроструктура сплавов, состав которых находите между точками DuN (рис. 24, 25, г). В сплавах состава С—К руживаются первично выпавшие кристаллы твердого раствора а * фоне эвтектики. Структура сплавов, лежащих между точками Dn' состоит соответственно из первично выпавших кристаллов твердо' раствора ? и эвтектики (рис. 25, д, ё). Первично выделяющиеся кря< таллы растут, окруженные жидкостью, поэтому имеют часто форму дритов, полиэдров, а иногда и идиоморфную форму (т. е. соС ветствующую данному типу кристаллической структуры). ВторичИ кристаллизуется эвтектика, которая заполняет все пространство м$ ду первично выпавшими кристаллами. Эвтектика имеет обычно мелК' зернистую структуру, которая получается при одновременном вьо*

48 •

дении из жидкости кристаллов обеих фаз. Микроструктурные исследования, таким образом, наряду с другими методами (рентгенострук-турным,' измерением электрических параметров и т. д.) помогают интерпретировать результаты термического анализа.

Рис. -25. Микроструктура сплавов, соответствующих различным участкам диаграммы на рнс. 24

Для определения положения кривой IaFM (рис. 26), ограничивающей область твердых растворов, готовят серию сплавов составов 1, 2, 3, 4,... Отжигают каждую серию сплавов при разных температурах ^1, t2, t3, tt, а затем производят закалку образцов. Изучение микроструктуры показывает, от какого состава при данной температуре появилась вторая фаза. Время, необходимое для завершения диффузионных процессов, резко увеличивается с понижением температуры. Оно подбирается опытным путем. Чувствительность микроструктурного метода достаточно велика. Под микроскопом обычно различают присутствие в сплаве 1 % второй фазы, а иногда и меньше. На диаграмме состояния линию сольвуса (MF) проводят на границе гомофазные — гетерофазные сплавы. Чем больше сплавов исследовано в данном концентрационном интервале, тем ' - • точнее определено положение

этой кривой. Подобное построение можно произвести и по' изотермам микротвердости. Характерный вид изотерм микротвердости для диаграмм состояния различного типа приведен на рис. 27. Как и при изучении микроструктуры, исследование нескольких изотерм микротвердости указывает ш положение кривой сольвуса, так как точки перегиба на изотермах соответствуют точкам, лежащим на *¦ этой кривой.

49

7 г J и 5 6

Рис 26. Схема определения границы области гомогенности:

О — гомогенные сплавы; Q — гетерогенные сплавы

в данном исследовании

сле полировки выступает над поверхностью. При отсутствии таких

„. * ' дефектов на шлифе под микроскопом видно только равномерно

Методика приготовления образцов. Образцы для приготовлени fa3^?e поле. Для более детального изучения поверхности шлифа

микрошлифов выбирают из той части слитка, которая представляє ^101. большеи увеличениИі Но при этом сужается

наибольший интерес. Изготовление микро :го J r r J

л. - зоения.

шлифа проводится в определенной после юле » образцов увеличивает контраст между фазами, обнару-

довательности. Шлифовкой выравниваю JP блочн0сть в. структуре, позволяетохарактеризовать взаимное

поверхность среза или излома. Эту опера ^лоЖение отдельных зерен. Выбор травителя определяется обыч-

цик> производят на абразивных круга: аСПк°сперИментально на основе химической природы составляющих фаз.

или шлифовальной бумаге с последователь ?ет несколько способов нанесения травителя на шлиф. При

уменьшающейся зернистостью. Прі ^шс^' J r ^ г
Предыдущая << 1 .. 15 16 17 18 19 20 < 21 > 22 23 24 25 26 27 .. 81 >> Следующая

Авторские права © 2011 BooksOnChemistry. Все права защищены.
Реклама